სსიპ - ფერდინანდ თავაძის მეტალურგიისა და მასალათმცოდნეობის ინსტიტუტი
LEPL - FERDINAND TAVADZE METALLURGY AND MATERIALS SCIENCE INSTITUTE
Основы аналитической электронной микроскопии.

UDK: 620.187/3

სპეციალიზაცია/Field: Техника

სათაური/Title: Основы аналитической электронной микроскопии. Под ред. Дж.Дж. Грена, Дж.И. Гольштейна, Д.К. Джоя, А.Д. Ромига. Пер. с англ. под ред. М.П. Усикова. 

პარალელური სათაური/Secondary title: 

ავტორი/Author: 

ენა/Language: русский

ცნობა გამოცემაზე/Note about the edition: 

ISBN : 

ISO: 

ქალაქი/City: Москва

გამომცემელი/Publisher: "Металлургия"

წელი/Year:  1990

გვერდები/Pages:  584

საინვენტარო ნომერი/Inventory number:  30268

ფასი/Price:  

[social_image]http://mmi.ge/templates/ge/images/fblogo.jpg[/social_image]